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清华大学工程物理系邓智副教授来访

作者: 访问量:833发布时间:2021-07-08


辐射成像在医疗、安检以及国土安全等领域中有着广泛的应用前景。随着辐射成像技术的发展,辐射探测单元尺寸越来越小,对读出电子学的集成度及功能都提出了极高的要求,而专用集成芯片(Application Specific Integrated Circuit, ASIC)是这其中的必由之路。

邓智老师来访期间,为师生们带来了“用于辐射成像的专用集成芯片研究进展”的学术报告。尤其针对医学影像,介绍了近年来课题组研制的用于PET和能谱CTASIC电子学进展情况,其中,包括用于SiPM探测器读出的时间和能量数字化芯片和高密度光子计数型像素读出芯片等。

除此,针对本中心计划开展的钙钛矿半导体材料的未来应用及读出电子学进行交流与讨论。




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